X 射線熒光光譜分析的基礎
一.引言:
X 射線光譜化學分析是建立在這樣一個基礎上:即任何化學元素在受到合適的激發下,都會發射出具有 特征性的輻射。這種激發可以是通過高速粒子,如電子、質子、α粒子和離子的撞擊,或者通過來自X 射 線管或其它合適的輻射源的高能輻射的照射來實現。通常,直接電子激發用于電子顯微技術,而同位素 輻射源或質子發生器用于能量色散系統。而X 射線熒光是指用X 射線管或其它合適的輻射源照射物質時, 使組成物質的原子產生具有特征性的一種次級X 射線。
二.X 射線的發射:
在光譜實驗工作中,通常是將一定量的能量作用于中性原子。不同的光譜技術所使用的能量本性是不同 的,例如在XRF 技術中通常是將X 輻射(又稱初級X 射線)照射原子;而在發射光譜技術中則用電弧或 高溫等離子體作為激發能量。
原子吸收了所提供的部分或全部能量使電子發生位移。這種電子位移如果發生在原子內部,即同一原子 中的電子吸收入射的能量位移到較高能量狀態,這樣就使原來的原子處在受激狀態,稱為受激原子。當 電子接受的能量到達足以克服原子核對它的束縛時,該電子就能離開原來的原子而使原子電離,成為帶 正電的離子。一般情況下,受激原子和離子可以同時存在。
在我們的工作情況下,當來自X 光管的初級X 射線和試樣作用后,就產生了以下各種現象:
● X 射線中的光電子被試樣中的原子吸收后,產生X 熒光和俄歇效應。
● X 射線被試樣中的原子碰撞后,產生相干散射和非相干散射。
● X 射線未被試樣原子吸收也未被試樣原子碰撞,而是穿透試樣繼續傳播。
三. 光電子吸收:
當一個具有足夠能量的X 射線光子作用于一個原子時,可以發生下列現象:首先是光子的能量轉移到原 子中的某個電子(例如K 層電子)導致該電子從原子中射出,使原子中電子的分布失去平衡,并在極短 的時間內,通過外層電子向內層躍遷使至恢復正常狀態。每一個這種電子的轉移(例如從L 層至K 層) 都有位能的損失,這種失去的能量以光子形式表現出來(按上例,這時出現的為Kα光子),光子所具 有的能量是所涉及轉移的二個殼層的固有能量之差。
圖1.1 顯示了可能出現的二種情況
圖1.1
圖1 左,K 層電子吸收外來能量hν后跳出原子,L 層電子回填K 層空位,多余能量以Kα形式放出,即 X 熒光發射。或者(圖1 右),Kα光子在離開原子的途中被原子內部的外層電子吸收,造成該外層電 子的逐出而使原子電離。例如,Kα光子能逐出L,M 或N 層的電子,這種現象稱作俄歇效應(Auger effect),即俄歇電子發射。應該指出,由于俄歇效應,在較高的電子殼層有可能產生2 個或更多的空 穴,這就出現了伴線峰或叫衛星峰(satellite peaks)的現象。
由以上可知,在產生熒光過程中,所生成的熒光只有一部分作為熒光被輻射出來,另一部分在原子內部 被吸收,而發射出俄歇電子。也就是說,最后能射出的X 光熒光光子的實際數目要比初始產生時少。通常將X 熒光光子(而不是俄歇電子)發射的概率稱為熒光產額(Fluorescence Yield),即某一殼層最 后釋放出的有用X 光熒光光子數與這一殼層中產生出的總X 光熒光光子數之比ω = Nx / Ns 。
隨著原子序數下降俄歇電子產生機率上升,也就是熒光
產額減 少。這就是為什么長波長隨著原子序數下降俄歇
電子產生機率 上升,也就是熒光產額減少。這就是為什
么長波長測定靈敏度 低的本質原因。圖1.2 顯示了熒光 圖1-2
產額與原子序數間的關系。 由于能級間的差值變小,K
系線的能量最大,所以K 系線的熒 光產額要比L 系高。
因此,在實際分析中,輕元素和中等元素 (即原子序數
小于56 的元素)經常采用K 系線,而到重元素 才考慮
采用L 系線。
四.X 射線的散射:
X 射線照射物質時,并不是所有的X 光光子都參與光電子吸收。它們中有一部分并沒有到達原子內層去 激發內層電子,而是和外層電子發生碰撞從而改變了方向,這種現象稱為散射效應。
有二種類型的散射:
● 瑞利相干散射(Rayleigh Coherent Scattering): 在這種散射中光子和電子碰撞后,改變了方 向而沒有能量損失,散射后的波長和未散射前的波長嚴格一致。也就是說,入射粒子和散射粒子存 在一定相位關系的散射。
● 康普頓非相干散射(Compton Incoherent Scattering): 在這種散射中光子和某些受約束較松弛 的電子碰撞,使光子損失了一些很少量的能量,傳給了電子,使其重新排列或離開原子(被逐出的 電子稱康普頓電子),而被散射的光子,除方向改變外,其波長亦變長。